X선/β선 면적 밀도 측정기
빛이 리튬 배터리 전극에 닿으면 전극에 의해 흡수, 반사 및 산란되어 투과된 전극 뒤쪽에서 입사광선에 비해 빛의 강도가 일정하게 감쇠되며, 이러한 감쇠율은 전극 무게 또는 표면 밀도와 음의 지수 함수 관계를 갖는다.
측정 원리
정밀 "o"형 스캐닝 프레임:장기 안정성이 우수하며 최대 작동 속도는 24m/min입니다.
자체 개발한 고속 데이터 수집 카드:데이터 수집 주파수 200kHz;
인간-기계 인터페이스:다양한 데이터 차트(수평 및 수직 추세 차트, 실시간 체중 차트, 원본 데이터 파형 차트, 데이터 목록 등)를 제공하며, 사용자는 필요에 따라 화면 레이아웃을 정의할 수 있습니다. 또한 주요 통신 프로토콜을 지원하며 폐쇄 루프 MES 연동이 가능합니다.
베타선/X선 표면 밀도 측정 장비의 특징
| 레이 타입 | 베타선 표면 밀도 측정기 - 베타선은 전자빔입니다. | X선 표면 밀도 측정 기기 - X선은 전자기파입니다. |
| 적용 가능한 테스트 사물 | 적용 가능한 시험 대상: 양극 및 음극, 구리 및 알루미늄 호일 | 적용 가능한 시험 대상: 양극 구리 및 알루미늄 호일, 분리막용 세라믹 코팅 |
| 광선 특성 | 자연스럽고 안정적이며 조작이 간편합니다. | 베타선보다 수명이 짧음 |
| 감지 차이 | 음극 재료는 알루미늄과 동일한 흡수 계수를 가지며, 양극 재료는 구리와 동일한 흡수 계수를 가집니다. | 탄소-구리 X선 흡수 계수는 크게 다르므로 음극을 측정할 수 없습니다. |
| 방사선 관리 | 자연 방사선원은 국가의 통제를 받습니다. 장비 전체에 대해 방사선 방호 처리를 해야 하며, 방사성 물질에 대한 절차는 복잡합니다. | 방사선량이 거의 없기 때문에 복잡한 절차가 필요하지 않습니다. |
방사선 보호
차세대 베타선 밀도계는 안전성 향상과 사용 편의성을 제공합니다. 선원 박스와 이온화 챔버 박스의 방사선 차폐 효과를 강화하고 납 커튼, 납 문 등 부피가 큰 구조물을 단계적으로 제거하면서도, 정상 작동 조건에서 장비의 접근 가능한 표면으로부터 10cm 떨어진 지점에서의 주변 등가선량률 또는 방향 등가선량률이 1 μ5V/h를 초과하지 않는다는 "GB18871-2002 - 이온화 방사선 방호 및 방사선원 안전 기본 기준"의 규정을 준수합니다. 또한, 실시간 모니터링 시스템과 자동 마킹 시스템을 통해 장비 도어 패널을 열지 않고도 측정 영역을 표시할 수 있습니다.
기술적 매개변수
| 이름 | 인덱스 |
| 스캔 속도 | 0~24m/min, 조절 가능 |
| 샘플링 주파수 | 200kHz |
| 표면 밀도 측정 범위 | 10-1000 g/m2 |
| 측정 반복 정확도 | 16초 적분: ±2σ: ≤±실제값 *0.2‰ 또는 ±0.06g/m2; ±3σ: ≤±실제값 *0.25‰ 또는 ±0.08g/m2; 4초 적분: ±2σ: ≤±참값 * 0.4‰ 또는 ±0.12g/m2; ±3σ: ≤±참값 * 0.6‰ 또는 ±0.18g/m2; |
| 상관계수 R2 | >99% |
| 방사선 방호 등급 | GB 18871-2002 국가 안전 기준(방사선 면제) |
| 방사성 물질의 수명 | 베타선: 10.7년(Kr85 반감기); X선: 5년 이상 |
| 측정 응답 시간 | <1ms |
| 전체 전력 | <3kW |
| 전원 공급 장치 | 220V/50Hz |
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