CDM 통합 두께 및 면밀도 측정기

코팅 공정: 전극의 작은 특징을 온라인으로 감지; 전극의 일반적인 작은 특징: 휴일 기아(전류 수집기 누출 없음, 일반 코팅 영역과 회색 차이가 작음, CCD 식별 실패), 스크래치, 얇게 만드는 영역의 두께 윤곽, AT9 두께 감지 등.

제품 상세 정보

표면 밀도 측정의 원리

X/β선 흡수법

두께 측정의 원리

상관관계 및 레이저 삼각 측량

시나리오 1: 전극 표면에 2mm 폭의 공백/결손이 있고 한쪽 가장자리가 더 두껍습니다(아래 그림의 파란색 선). 광선 스팟이 40mm일 때, 측정된 원본 데이터 모양(아래 그림의 주황색 선)의 영향이 눈에 띄게 작아 보입니다.

시나리오 2: 동적 솎아내기 영역의 프로파일 데이터 0.1mm 데이터 폭

이름	인덱스
스캐닝 속도	0-18m/분
샘플링 주파수	표면 밀도: 200kHz; 두께: 50kHz
표면 밀도 측정 범위	표면 밀도: 10~1000 g/m²; 두께: 0~3000 μm;
측정 반복 정확성	표면 밀도: 16초 적분: ±2σ: ≤±참값 * 0.2‰ 또는 ±0.06g/m²; ±3σ:≤±참값 * 0.25‰ 또는 +0.08g/m²; 4s 적분: ±2σ: ≤±참값 * 0.4‰ 또는 ±0.12g/m²; ±3σ: ≤±참값 * 0.6‰ 또는 ±0.18g/m²;두께: 10 mm 영역:±3σ: ≤±0.3μm; 1 mm 구역: ±3σ: ≤±0.5μm; 0.1 mm 구역: ±3σ: ≤±0.8μm;
상관관계 R2	표면 밀도 >99%; 두께 >98%;
레이저 스팟	25*1400㎛
방사선 방호 등급	GB 18871-2002 국가 안전 표준(방사선 면제)
방사성 물질의 수명 원천	β-선: 10.7년(Kr85 반감기); X-선: > 5년
측정 응답 시간	표면 밀도 < 1ms; 두께 < 0.1ms;
전체 전력	<3kW